| 白玉书.过量受照人员照后第7次细胞遗传学随访观察[J].中华放射医学与防护杂志,2005,25(6):550-551 |
| 过量受照人员照后第7次细胞遗传学随访观察 |
|
| 投稿时间：2005-03-10 |
| DOI： |
| 中文关键词: |
| 英文关键词: |
| 基金项目: |
|
| 摘要点击次数: 2495 |
| 全文下载次数: 1771 |
| 中文摘要: |
| 众所周知,人类染色体对电离辐射非常敏感,在急性照射时淋巴细胞染色体畸变产额与所受剂量存在密切关系,在慢性小剂量和内照射时染色体畸变率也有明显改变,它出现时间早,持续时间长,可达数月或数年,不仅可用于察觉辐射损伤、估算事故受照者的生物剂量,而且还可作为辐射环境评价和辐射远后效应的重要观察指标[1-4]。微核测定法不仅可以用作生物剂量估算,而且在远后效应研究中也得到广泛应用[5,6],笔者分析了受照人员照后27～36年细胞遗传学随访结果。 |
| 英文摘要: |
| |
| HTML 查看全文 查看/发表评论 下载PDF阅读器 |
| 关闭 |
|
|
|