陈允超,杨荣珍.F34-Ⅰ型X射线治疗机的半值层测量[J].中华放射医学与防护杂志,1994,14(1):61-62..[J].Chin J Radiol Med Prot,1994,14(1):61-62
F34-Ⅰ型X射线治疗机的半值层测量
投稿时间:1992-05-27  
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陈允超 兰州医学院第一附属医院, 兰州 730000 
杨荣珍 兰州医学院第一附属医院, 兰州 730000 
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中文摘要:
      当医用中能X射线机在安装、调试完成,或更换X射线管时,为了选择所需要的直接用于治疗的X射线质,应进行半值层的测定,这是必不可少的。我科于1987年在该机上换装杭州电子管厂生产的治疗管后,使用经中国计量科学研究院鉴定校准的西门子剂量仪与半值层侧量器,用相对吸收法进行了半值层的测量。
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